檢驗設備
EM-2.5D-3A
2.5D 投影儀可以測量點、線、圓、弧和橢圓、矩形，實現快速檢測，提高產品尺寸精度。
- 量測行程(X, Y, Z)：300*200*150 mm
- 解析讀值 ：0.5 µm
- 光學倍率：0.7X ~ 4.5X
WENZEL LH65
檢驗迅速，提高產品性能並降低生產成本。
- 量測行程：1200 x 500
- 解析讀值：0.05µm
Keynceimk-8000
IM-8000 可以執行一系列新的測量，包括對稱性、平面測量、平面度、圓柱度、同軸度和跳動，同時提供數據可視化，包括圓度圖。
- 重複精度：0.5 µm
- 量測精度：2 µm
Mitutoyo SJ-410
通過高度計適配器及專用測量台架等附件，進行複雜工件之各種姿勢調整和定位測量，可更提高量測準確性。
測量範圍 / 最小解析度：
- 800µm / 0.01µm
- 80µm / 0.001µm
- 8µm / 0.0001µm
TESA HITE 400
其光學讀數系統，為用戶提供比其對應的磁柵系統（TESA-HITE MAGNA）更高的準確度，且無需犧牲其長期可靠性。
- 解析讀值：0.1 µm